IS MIK 01 Zuverlässigkeit in der Mikroelektronik. Was bedeutet das eigentlich für unseren Alltag?
IS MIK 01
Zuverlässigkeit in der Mikroelektronik. Was bedeutet das eigentlich für unseren Alltag?
Seminarvorlesung
PD Dr.-Ing. Kirsten Weide-Zaage
Uni Hannover
Sa 24.8. 11.00-12.30 und
14.00-17.30 Uhr
So 25.8. 11.00-12.30 und
14.00-17.30 Uhr
Voraussetzung: Interesse an Elektronik, Grundkenntnisse in Mathematik
Language: The teaching language will be German.
Anforderung: Kurzer Informationsaustausch und Fragebogen vor dem Sommerstudium, Übungen beim und Ausarbeitung nach dem Sommerstudium
Teilnehmerinnen: 10
Credit Points (ECTS): mit Ausarbeitung 1
Anerkennung in Uni Bremen: (General Studies VAK allgemein) META-2013/IS.2013.MIK.01
(Digitale Medien VAK) (keine Anerkennung)
(Elektrotechnik VAK) auf Antrag anerkennbar als Freie Wahl
(Informatik VAK) 03-BU-2/IS.2013.MIK.01 (Freie Wahl); auf Antrag wählbar für Master
(Produktionstechnik) anerkannt im Modul General Studies
Anerkannt als Bildungsurlaub im Land Bremen.
In jedem modernen Gerät oder im Bereich Automotive werden heute zunehmend mehr mikroelektronische Komponenten verbaut, die den Umgang und die Bedienung komfortabler gestalten sollen. Die Zuverlässigkeit der einzelnen Komponenten bestimmt dabei letztlich die Gesamtlebensdauer. In dem Kurs erarbeiten wir uns die Grundlagen, die zum Verständnis von Zuverlässigkeitsaspekten notwendig sind. Mit Hilfe von beschleunigten Belastungstests sowie Simulationen ist die Bestimmung der Zuverlässigkeit der Komponenten möglich. Dazu gehören die Auswahl geeigneter Materialparameter, Testbedingungen und Teststrukturen. Die Modellbildung und Validierung für simulationstechnische Untersuchungen spielen dabei ebenfalls eine Rolle, die wir uns ansehen werden.
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